Nanofocus µsprint Topographer
프로브 카드 및 웨이퍼 검사에 특화된 고속 3D 계측 솔루션 (High-Speed 3D Metrology Solution Specialized for Probe Card and Wafer Inspection)
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| 제조사 |
Nanofocus/germany |
| 납기 |
납기 확인 |
| 브랜드 |
1ea/pk |
| 모델 |
Nanofocus µsprint Topographer |
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