
본 장비는 대형 Probe Card 및 반도체 시료의 정밀 관찰을 위한 레이저 현미경용 대면적 스테이지 시스템이다.
본 장비는 Olympus OLS5100 레이저 현미경과 연동되어 표준 스테이지로 대응이 어려운 대형 시료의 검사를 지원한다.
본 장비는 300 × 300 mm의 넓은 작업 영역을 적용하여 Probe Card, 기판 및 웨이퍼의 전 영역 관찰이 가능하다.
본 장비는 고강성 구조와 정밀 이송 메커니즘을 적용하여 대형 시료 측정 시에도 안정적인 위치 정밀도를 제공한다.
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