팝업레이어 알림

• 기술영업 담당자
• st6@st1.kr
• 010-4379-4455
/
• st2@st1.kr
• 010-4449-4456

• 

상품간략정보

Probe Card Inspection System [ST-JF-3030-LM]

상품 선택옵션 0 개, 추가옵션 0 개

제조사	SCIENCETOWN
납기	4~5주(협의)
브랜드	26-01-03-020
모델	ST-JF-3030-LM
포인트	0점
배송비결제	주문시 결제

위시리스트 sns 공유

추천하기

구매기능

닫기

견적문의contact_support 자료받기download

구매하기

첨부파일

• 상품정보
• 사용후기
• 상품문의
• 배송/교환

• 상품 정보

  상품 상세설명

  
  

  본 장비는 8인치 및 12인치 Wafer의 정밀 관찰과 측정을 위한 이동형 검사 스테이지 시스템이다.

  본 장비는 Wafer를 이송하면서 관찰할 수 있는 구조를 적용하여 넓은 영역의 검사가 가능하다.

  본 장비는 실체 현미경 및 줌 렌즈를 장착할 수 있어 다양한 광학 검사 환경에 대응한다.

  본 장비는 회전 가능한 Wafer Holder와 LM Guide 구조를 적용하여 안정적인 시료 위치 조정이 가능하다.

  
  

  ① 회전형 Holder Plate를 적용하여 Wafer 전 영역의 관찰이 용이하다.

  
  

  ② LM Guide 기반의 이동 구조로 부드럽고 안정적인 시료 이송이 가능하다.

  
  

  ③ 다양한 브랜드의 실체 현미경 및 줌 렌즈와 호환되어 활용성이 높다.

  
  

  ④ 8인치와 12인치 Wafer를 모두 지원하여 장비 운용의 유연성을 제공한다.

  
  

  ⑤ 모듈형 구조를 적용하여 향후 자동화 및 측정 기능 확장이 용이하다.

  상품 정보 고시

• 사용후기

  사용후기가 없습니다.

  사용후기 쓰기 새 창 더보기

• 상품문의

  상품문의가 없습니다.

  상품문의 쓰기 새 창 더보기

• 배송/교환정보

  배송정보

  
  
  

   

  
  

  
  
  

  교환/반품